제품개요
Light element detector windows를 사용하여 C, N, O, F 분석이 가능합니다.
특허 출원중인 조리개 관리 시스템 (AMS)은 타의 추종을 불허하는 피사계 심도를 제공하며
표면이 평평하지 않고 높낮이가 있는 샘플을 분석 할 수 있습니다.
WD-XRF 와 유사한 정량성을 갖습니다.
- C~Am 까지 분석 가능하며, Fluorite 및 방해석을 구별 할 수 있습니다.
- 탄산염, 산화물, 아질산염 및 형석을 검출하고 구별하는 데 사용할 수 있습니다.
- 생물학, 고분자 연구, 질화물 및 산화물 기반의 반도체 등의 분석에 이용할수 있습니다.
- 미량의 경원소를 분석 하는데 적합합니다.
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Light element detector windows를 사용하여 C, N, O, F 분석이 가능합니다.
특허 출원중인 조리개 관리 시스템 (AMS)은 타의 추종을 불허하는 피사계 심도를 제공하며
표면이 평평하지 않고 높낮이가 있는 샘플을 분석 할 수 있습니다.
WD-XRF 와 유사한 정량성을 갖습니다.
- C~Am 까지 분석 가능하며, Fluorite 및 방해석을 구별 할 수 있습니다.
- 탄산염, 산화물, 아질산염 및 형석을 검출하고 구별하는 데 사용할 수 있습니다.
- 생물학, 고분자 연구, 질화물 및 산화물 기반의 반도체 등의 분석에 이용할수 있습니다.
- 미량의 경원소를 분석 하는데 적합합니다.